＜コラム＞各国特許庁／機関提供の知財関連情報
日米欧中韓をはじめとする各国特許庁／機関は、法制度に関する情報はもちろん、データベース、年次報告書等の形で各種の知財関連情報を提供しています。
例えば、世界知的所有権機関（WIPO）及びWIPO日本事務所は、特許協力条約（PCT）、意匠のハーグ協定及び商標のマドリッド協定議定書に関する資料だけでなく、各条約に基づく出願／登録以外に諸外国の公報まで収録した各種のデータベース（PATENTSCOPE、Global Design Database、Global Brand Databaseなど）や、下記のようなサービスを提供しています（多くは英語での提供）。
- 世界中の知財関連法・条約を収録した「WIPO Lex」
- 世界各国の出願件数・登録件数を様々な観点から確認できる「Statistical Country Profiles」及び「IP Statistics Data Center」
- 特許の法的状況を確認するためのツール等に関する情報をまとめた「Patent Register Portal」
- 特許文献のテキストデータを活用した機械翻訳「WIPO Translate」及び科学技術用語ポータル「WIPO Pearl」
- 国コード、公報種別コード、INIDコード（書誌的事項の識別記号）等をまとめた「WIPO Standards on Industrial Property Information and Documentation」
※PCT出願人の手引きに含まれる国コード一覧（日本語版）はこちら
※日本の工業所有権情報・研修館（INPIT）から提供されているINIDコード一覧表（日本語版）はこちら
日米欧中韓については、各国・地域の特許庁ウェブサイトとは別に、特許は「IP5 (Five IP Offices)」、商標は「TM5 (Five Trademark Offices)」のウェブサイトにて、制度、統計等に関する情報が提供されています。
また、米国特許商標庁（USPTO）は公開済み特許出願の審査書類等をバルクデータの形でするなど各種の情報を一般へ提供しており、ウェブサイトでは「Open Data Portal」を開設して、様々なテーマに関するグラフも提供しています。さらに、一般でも活用例が出始めており、例えば「Patent Bots」で無料で提供されている「Examiner Stats」では、USPTO審査官の名前を検索すると、その審査官が担当した出願の審査期間、審査官面接（インタビュー）あり・なしでの許可率の違いなど複数の観点からの統計情報を確認することができ、審査実務の参考にすることができます。
【参考】
日本特許庁「特許行政年次報告書」
米国特許商標庁「開発者ハブを利用して価値高めた米国特許データの解放」、「USPTOのバルクデータ」※Open Data Portalやバルクデータに関する言及を含む2016 特許・情報フェア&コンファレンスでの講演資料
世界知的所有権機関「WIPO グローバル データベース－ 特許・商標・意匠DBを中心としてその特徴とコツ －」※PATENTSCOPE、Global Design Database、Global Brand Databaseの説明を含む2016 特許・情報フェア&コンファレンスでの講演資料
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＊＊＊更新情報（2019年5月20日）＊＊＊
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